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手机受话器原理:压力场、泄漏与耳模拟器测量

受话器(听筒)和微型扬声器都是动圈式电声器件:磁路、音圈、振膜,原理几乎一样。但受话器是贴着耳朵工作的,振膜推动的是耳道与耳廓围成的一个只有几立方厘米的小空腔,而不是开放的空气。这个差别决定了受话器为什么用很小的功率就够响、为什么频响曲线要在耳模拟器上测、为什么手机没贴紧耳朵时声音会“发薄”。本文从结构讲起,用压力场模型和亥姆霍兹共振公式定量分析受话器的低频、泄漏和高频,再介绍人工耳的类型与测量要点。

  • ≈80 dB贴耳小腔与 1 m 外放之差
  • 300 Hz0.3 mm2 泄漏的低频拐点
  • 8 N3GPP 默认贴耳力

一、受话器与扬声器:同一原理,两种声场

手机里通常有两类发声器件:底部或侧面的扬声器负责免提和铃声,向开放空间辐射,听者在几十厘米外;顶部的受话器负责通话,出声孔贴在耳廓上,和耳道一起形成一个近似封闭的小空腔。前者工作在自由场,后者工作在压力场。两者的结构可以很相似,设计目标和评价方法却完全不同。

项目受话器(听筒)微型扬声器
使用方式受话器:出声孔贴耳扬声器:向周围空间外放
声学负载受话器:耳道与耳廓围成的小腔(压力场)扬声器:开放空气(自由场)
平坦频段的条件受话器:低于谐振频率,振幅恒定即声压恒定扬声器:高于谐振频率,加速度恒定即声压恒定
频响测量受话器:耳模拟器或人工耳扬声器:消音室内按规定距离测量
驱动功率与振幅受话器:功率小、振幅小扬声器:功率和振幅大得多

近年不少手机让顶部的受话器兼作立体声外放的一个声道,这时同一个器件既要在贴耳时频响平顺,又要在外放时有足够的声压和低失真,设计难度明显提高。

二、结构:磁路、振膜与前后腔

图 1 是一只内磁式受话器的剖面示意。磁钢上面叠着导磁的华司,外面罩着U 杯(轭铁),华司边缘与 U 杯侧壁之间留出一圈很窄的磁间隙;音圈粘在振膜上,悬在磁间隙里。音频电流流过音圈时受到安培力 F = Bl · i,推动振膜前后运动。

磁钢 声音 → 耳 出声孔 前腔 振膜(复合膜) 盆架 后腔 音圈 华司(导磁板) U 杯(轭铁) 阻尼网 示意:内磁式受话器剖面,各部分比例不代表实际产品
图 1内磁式受话器剖面(示意)。音圈悬在华司与 U 杯之间的磁间隙中,振膜前方是前腔和出声孔,背面经盆架上的孔通向后腔,后腔泄气孔覆有阻尼网。
  • 振膜:受话器多用 PET、PEEK 等薄膜热压成型的复合膜,中间球顶、外圈折环;折环的形状和膜材厚度决定了顺性,也就决定了谐振频率。
  • 前腔与出声孔:振膜与前盖之间的小空间,经出声孔通向耳朵。前腔容积和出声孔尺寸构成一个亥姆霍兹共振器,决定高频的上限(见第五节)。
  • 后腔与阻尼网:振膜背面的空气经盆架上的孔进入后腔,再经覆有阻尼网的泄气孔与外界相通。后腔的空气是一个附加的弹簧,阻尼网提供声阻,压低谐振峰。
  • 跑道磁钢:手机顶部留给受话器的空间又窄又薄,把磁钢做成长条“跑道”形,可以在有限宽度内放下更多磁钢、获得更长的有效音圈长度。引线式和弹片式则是两种不同的电气连接方式。

后腔为什么会改变谐振频率?封闭空气的声顺折算到振膜上,相当于一根附加弹簧,其劲度为:

Kb = ρc2Sd2 / Vb
f0 = (1/2π) · √((Kms + Kb) / Mms)

式中:ρc2 为空气的绝热体积模量,常温常压下约 1.42 × 105 Pa;Sd 为振膜有效面积(m2);Vb 为后腔容积(m3);Kms 为振膜与折环的劲度(N/m);Mms 为振动质量(kg)。

示例:Sd = 40 mm2、Mms = 40 mg、Kms = 1000 N/m 的振动系统,单独谐振在约 796 Hz;装进 0.5 cm3 的后腔,Kb ≈ 454 N/m,谐振升到约 960 Hz;后腔缩小到 0.1 cm3,Kb ≈ 2270 N/m,已是振膜自身劲度的两倍多,谐振升到约 1440 Hz。后腔越小,空气弹簧越硬,这是超薄机型中受话器低频难做的原因之一。

三、压力场:为什么贴耳就够响

当空腔的尺寸远小于声波波长时(4 kHz 的波长约 8.6 cm,耳道加耳廓的尺度只有几厘米),腔内各处的声压近似相等,空气只是被整体压缩和膨胀。振膜推入的体积变化 ΔV = Sdx 产生的声压为:

p = ρc2 · Sdx / V

式中:x 为振膜位移(m);V 为空腔容积(m3);p 为声压(Pa)。公式里没有频率:只要振幅不变,声压就不变。

作为对比,同一块振膜装在无限大障板上向半空间辐射,距离 r 处的声压为:

p = ρω2Sdx / (2πr)

式中:ρ 为空气密度,约 1.2 kg/m3;ω = 2πf 为角频率。自由场声压与振膜加速度 ω2x 成正比。

示例:Sd = 40 mm2,振膜位移峰值 5 μm。推入 2 cm3 的空腔,声压峰值约 14.2 Pa,有效值约 10 Pa,即约 114 dB SPL;同样振幅在 1 kHz 下向半空间辐射,1 m 处只有约 34.5 dB,10 cm 处约 54.5 dB。贴耳和外放相差约 80 dB,所以受话器只需要很小的功率和振幅。

两个公式还说明了受话器与扬声器的频响为什么“方向相反”。振动系统在谐振频率 f0 以下由劲度控制,同样的驱动力下振幅基本恒定;在 f0 以上由质量控制,振幅按 f−2 下降,而加速度恒定。所以:

受话器压力场

平坦区在 f0 以下

声压正比于振幅,低于谐振频率时频响平坦;高于谐振频率时按约 12 dB/倍频程下降,要靠前腔共振和阻尼把高频撑起来。

扬声器自由场

平坦区在 f0 以上

声压正比于加速度,高于谐振频率时频响平坦;低于谐振频率时按约 12 dB/倍频程下降,所以扬声器追求低谐振频率。

注意:压力场模型的前提是空腔密封、尺寸远小于波长。频率升高到波长与耳道长度可比时,耳道驻波会使鼓膜处的声压出现共振峰;空腔一旦漏气,低频的“恒定振幅即恒定声压”也不再成立,这正是下一节的内容。

四、泄漏:手机没贴紧,低频就“漏”了

真实使用中,手机外壳与耳廓之间几乎总有缝隙。缝隙相当于一根细管,管里的空气作为一个整体被推动,表现为声质量,管壁的黏滞摩擦表现为声阻。它与空腔的声顺并联:低频时空气来得及从缝隙进出,腔内建立不起压力;高频时缝隙里的空气“推不动”,空腔重新接近密封。这就是一个亥姆霍兹共振器,其拐点频率为:

fL = 1 / (2π√(MACA))
MA = ρl′ / A,CA = V / (ρc2)
fL = (c/2π) · √(A / (Vl′))

式中:A 为泄漏通道截面积(m2);l′ 为含端部修正的有效长度(m);V 为耳侧空腔容积(m3);c 为声速,约 343 m/s;MA 为声质量(kg/m4);CA 为声顺(m3/Pa)。

示例:空腔 2 cm3,泄漏通道等效为长 5 mm 的细管。截面积只有 0.3 mm2 时,fL 已约 300 Hz;截面积 3 mm2 时约 950 Hz。图 2 把这两种泄漏代入一个完整的集总参数模型(振动系统与声学负载耦合计算),可以看到:

密封 小泄漏 0.3 mm2 大泄漏 3 mm2 100 200 500 1k 2k 5k 8k -30 -25 -20 -15 -10 -5 0 5 10 15 频率 f / Hz 相对声压级 / dB f0 ≈ 1200 Hz 大泄漏:低频缺失 质量控制区 −12 dB/倍频程
图 2泄漏对受话器频响的影响(示例参数:Sd = 40 mm2,Mms = 40 mg,耳侧空腔 2 cm3,泄漏通道长 5 mm、截面积 0.3 mm2 与 3 mm2,泄漏共振 Q = 1;以密封状态 100 Hz 为 0 dB;未计前腔共振)。
  • 泄漏对 fL 以上的频段影响很小,对 fL 以下的低频则是持续的衰减。泄漏以声阻为主时低频按约 6 dB/倍频程下降,以声质量为主时接近 12 dB/倍频程。
  • 在 fL 附近,泄漏的声质量与空腔声顺发生共振,声压反而略高于密封状态。
  • 大泄漏时 100 Hz 处比密封状态低约 19 dB,听感上就是“声音发薄、发尖”。贴紧程度因人、因握持方式而变,所以同一部手机不同人用,低频差别很大。

应对泄漏有两条思路。一是泄漏容忍设计:受话器与整机声学结构主动引入一个受控的、声阻较大的泄漏通道,使密封与否对低频的影响变小,代价是需要更大的体积位移来补偿这条固定泄漏。二是电子补偿:通话音频链路中的均衡器适当提升低频,部分方案还会根据实时估计的贴耳状态调整均衡。

注意:低频提升 6 dB 意味着振膜振幅加倍。受话器的线性振幅本来就小,补偿过度会使失真和“破音”增加;而在贴紧耳朵、几乎没有泄漏时,过度提升的低频又会显得发闷。因此均衡目标应在高、低泄漏两种条件下同时验证。

五、前腔与出声孔:高频的亥姆霍兹共振

振膜前方的小前腔与出声孔组成另一个亥姆霍兹共振器,公式与第四节相同,只是 V 换成前腔容积 Vf,A 和 l′ 换成出声孔的总面积和有效长度。圆孔两端的端部修正合计约 1.7r(r 为孔半径),薄前盖上的孔,有效长度主要由端部修正决定。

出声孔 1 mm2 出声孔 2 mm2 出声孔 4 mm2 0.02 0.05 0.08 0.11 0.14 0.17 0.2 0 4 8 12 16 前腔容积 V / cm3 共振频率 / kHz ≈ 8.0 kHz 出声孔厚 0.5 mm,端部修正 1.7r
图 3前腔亥姆霍兹共振频率随前腔容积和出声孔面积的变化(按 f = (c/2π)√(A/(Vfl′)) 计算,单个圆孔、厚 0.5 mm,示意)。

示例:前腔 0.05 cm3,出声孔总面积 2 mm2、厚 0.5 mm 时,共振在约 8.0 kHz;前腔加大到 0.2 cm3,降到约 4.0 kHz。设计上通常让这个共振落在通话频带上沿附近,补偿振动系统在谐振以上的滚降;共振峰太尖,则用出声孔上的防尘网或阻尼材料提供声阻,把峰压平。

提示:整机装配时,受话器与机壳出声孔之间要用泡棉或胶圈密封。密封不良时,前腔会经机壳内部与后腔相通,形成“声短路”,低频大幅下降;机壳出声孔与受话器之间的通道也会改变前腔的有效容积和共振频率。所以受话器单体的频响只是起点,最终要在整机上复测。

六、怎么测:耳模拟器与人工耳

受话器的声压级只有在规定的声学负载下才有意义。早期的耳模拟器只是一个固定容积的耦合腔;后来的标准逐步加入耳道、鼓膜阻抗和耳廓,使测量结果更接近真实人耳。ITU-T P.57 定义了电话测量用的几类人工耳:

ITU-T P.57 类型构成典型用途
Type 1Type 1:基于 IEC 60318 的耦合腔,不模拟泄漏Type 1:传统的电话频带测量
Type 2Type 2:IEC 60318-4(原 IEC 60711)封闭耳模拟器,在鼓膜参考点 DRP 测量Type 2:入耳式耳机、助听器
Type 3.2Type 3.2:Type 2 加简化耳廓,分低泄漏与高泄漏两种Type 3.2:手机听筒,生产线常用
Type 3.3Type 3.3:Type 2 加仿真耳廓,装在头躯干模拟器上Type 3.3:整机通话性能测试

测量结果所对应的位置也要说清:DRP(鼓膜参考点)是耳模拟器底部传声器所在的位置;ERP(耳参考点)在耳廓入口处。二者之间相差一段耳道的传递函数,换算时使用 ITU-T P.57 给出的修正曲线。3GPP TS 26.131 / 26.132 规定的手机通话测试使用头躯干模拟器(ITU-T P.58)上的 Type 3.3 人工耳,接收频响以 DRP 测量并做扩散场修正;手机压向人工耳的力默认为 8 ± 2 N,部分测试项目规定为 13 N。压力越小,泄漏越大,低频越低,所以报告里必须注明贴耳力。

受话器单体在生产线上的终检通常在专用耦合腔夹具中进行,流程大致如下:

  1. 阻抗与极性

    测直流电阻或 1 kHz 阻抗,确认音圈与引线(或弹片)连接正常;用脉冲或低频信号确认振膜运动方向,防止极性装反。

  2. 频响与灵敏度

    在规定电压下正弦扫频,测耦合腔内的声压级曲线,与标准曲线及上下限模板比较。

  3. 失真与异音

    同一次扫频中计算 THD,并检测高次谐波能量,筛出音圈擦碰、异物、漏胶等引起的 Rub & Buzz。

  4. 气密与外观

    需要时检查前后腔的气密性,以及出声孔防尘网是否完好、是否有堵塞。

七、整机设计与选型要点

阻抗与驱动
受话器常见 32 Ω 等较高阻抗,由音频编解码器的听筒放大器驱动;兼作外放时,需要按功放的电压与负载能力核对功率和最大振幅。
后腔容积
后腔越小谐振越高、低频越弱。整机能否为受话器留出后腔、或利用机身内部空间扩大后腔,直接影响低频。
出声孔与网布
出声孔面积和厚度决定前腔共振,网布的声阻决定共振峰的高低;防尘、防水网同时也是声学元件,更换时要复测频响。
密封
受话器与机壳之间的泡棉或胶圈要压缩均匀,避免前后腔声短路和装配一致性问题。
磁场与助听器兼容
受话器的漏磁会被助听器的感应线圈拾取,这正是助听器兼容(HAC)测试关注的内容;同时受话器磁路要与电子罗盘、霍尔传感器等保持距离。

要点速览

  • 压力场:贴耳小腔里 p = ρc2Sdx/V,声压只与振幅有关,同样振幅比 1 m 外放高约 80 dB。
  • 平坦区相反:受话器在谐振频率以下平坦、以上下降;扬声器在谐振频率以上平坦、以下下降。
  • 后腔是弹簧:Kb = ρc2Sd2/Vb,后腔越小谐振越高。
  • 泄漏是高通:fL = (c/2π)√(A/(Vl′)),0.3 mm2 的缝隙就能让 300 Hz 以下明显衰减。
  • 前腔定高频:同一公式算出前腔共振,配合网布声阻补偿谐振以上的滚降。
  • 测量要注明条件:人工耳类型、DRP 或 ERP、贴耳力和泄漏条件不同,结果不能直接比较。
参考资料:ITU-T P.57《Artificial ears》;ITU-T P.58《Head and torso simulator for telephonometry》;IEC 60318-4《Simulators of human head and ear, Part 4: Occluded-ear simulator for the measurement of earphones coupled to the ear by means of ear inserts》;3GPP TS 26.131 / TS 26.132(终端声学性能要求与测试方法);L. L. Beranek,《Acoustics》(集总参数声学元件、亥姆霍兹共振器)。文中振膜、腔体和泄漏参数均为说明原理的示例,图 2、图 3 为按公式计算的示意曲线。
说明:苏扬电子生产引线式、弹片式和跑道磁钢等多种受话器,检测中心配有消音室等测试设备,选型时可联系我们提供频响与阻抗测试数据。欢迎联系我们。